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2003年 第05期目录
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湿热环境与电子产品可靠性Humid and Hot Environment and Electronic Product Reliability作者:彭骞, 2003年 第05期
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关于浸渍试验中温度条件的探讨Discussion about Temperature Condition of Soak Test作者:吴东海,王兴斌, 2003年 第05期
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石油测井仪器的稳定性评价方法Stability Evaluation Method for Petroleum Logging Instruments作者:任晓荣, 2003年 第05期
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可靠性设计在中频逆变电源开发中的应用Application of Reliability Design to the Mid-frequency Inverter Power Supply Development作者:虞培义,周云, 2003年 第05期
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硅加速度传感器芯片的优化设计研究Study on Optimized Design of Silicon Acceleration Sensor Chip作者:邓永和,李玉琮,许迈昌, 2003年 第05期
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工业控制计算机部件的可靠性分析Analysis for Reliability of Industry Computer Parts作者:胡晓宇,何华云,唐超凡, 2003年 第05期
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FMEA技术在CDMA直放站中的应用Application of FMEA for the CDMA Repeater作者:王三红,茹洪涛, 2003年 第05期
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恒电量测试系统极化信号检测电路的设计The Circuit Design for Measuring the Signal of Coulostatic Polarization作者:朱卫东,陈范才, 2003年 第05期
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大规模集成电路的高低温测试技术The Technique for High and Low Temperature Testing of VLSI作者:焦慧芳,贾新章, 2003年 第05期
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多层共烧陶瓷在MCM-C中的应用及其可靠性Application and Reliability of Cofired Multilayer Ceramics for MCM System作者:吴海东, 2003年 第05期
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MCM-C中厚膜电阻的寿命分布及退化规律的研究Study on Lifetime Distribution and Degradation Law of The Thick-film Resistors in MCM-C作者:周仲蓉,郭春生,程尧海,李志国,邹琼,张增照,莫郁薇, 2003年 第05期
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宽带大功率行波管输出烧毁及驻波变大失效机理及对策The Failure Mechanisms and Corrective Actions of Putout Burning-out and Swr Increase of High Power Wideband TWT作者:李少平,陈三廷,罗东蓉, 2003年 第05期
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电子产品退化失效的BS模型BS Model for Degradation Failure of Electronic Product作者:钟征,孙权,周伟, 2003年 第05期
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一种新的元器件可靠性评估方法--结构分析(CA)A New Method for Reliability Evaluation of Device--Construction Analysis(CA)作者:张延伟,江理东,陈志强, 2003年 第05期
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电子产品可靠性与环境试验
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
期刊 :  | | RMB:10 | | 主管部门 | 信息产业部 | | 编辑部名 | 信息产业部电子第五研究所
广州市天河区东莞庄路110号（广州市1501信箱9分箱）
510610
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www.ceprei.com | | 编辑部 | 电子产品可靠性与环境试验编辑部 | | ISSN | :1672-5468 | | CNSN | :44-1412/TN | | QCode | :dzcpkkxyhjsy | | Url | :http://www.ilib.cn/P-dzcpkkxyhjsy.html |
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